分析型掃描電子顯微鏡的能夠觀察材料表面的微觀結構、形態(tài)、晶界、相界等，分析材料的表面粗糙度、顆粒大小及分布等，這些信息對于了解材料的性質、性能和制備工藝等具有重要意義。結構：
電子光學系統：包括電子槍、電磁透鏡和掃描線圈等部件。電子槍是發(fā)射電子的源，電磁透鏡則用于匯聚電子并調節(jié)電子束的聚焦狀態(tài)，而掃描線圈則使電子束在樣品表面作有規(guī)則的掃描動作。
信號探測處理和顯示系統：在電子束與樣品相互作用的過程中，會產生各種信號，如二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等。這些信號被相應的探測器接收，轉換為電信號，再經過放大和處理后傳輸到顯像管或計算機系統，最終以圖像的形式顯示出來。
真空系統：為了確保電子束的正常運行和避免污染，分析型掃描電子顯微鏡需要在高真空環(huán)境下工作。真空系統的作用是排除空氣，創(chuàng)造一個清潔的工作環(huán)境。
冷卻循環(huán)水系統：為了防止設備過熱，分析型掃描電子顯微鏡通常需要配備冷卻循環(huán)水系統。該系統能夠將設備運行過程中產生的熱量帶走，保證設備的正常工作。
電源供給系統：為分析型掃描電子顯微鏡提供所需的電源，包括供電、控制和調節(jié)等電路。
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